解决方案

先进的半导体组装、测试和检验设备

无论您想要什么类型的突破性半导体制造技术,ITEC都是您的正确选择。我们的解决方案包括适用于量产半导体器件的快速、精确型贴片机和裸片分类器,高通量生成测试机和高效自动光学检测(AOI)系统。ITEC可为您提供具备竞争优势的半导体制造技术。

将颠覆性技术转变为市场领先的解决方案

在ITEC,我们不只是制造设备,我们还帮助客户设计应对挑战的解决方案。这意味着,我们要不断适应行业的发展趋势,改进我们的内部技术。针对RFID嵌体和迷你LED显示屏,我们开发了专用贴片机和裸片分类器。我们的分立器件产品生产测试机在速度和精度方面处于市场领先。此外,在我们先进的AOI系统中,我们利用机器学习来检测分立器件和集成电路的产品缺陷。我们专注于研发颠覆性技术,同时提供能够为您带来独特优势的解决方案。

我们与每个客户合作,了解其面临的挑战。想要在不降低质量的情况下降低生产成本?或者,您是否越来越担心现有生产设备及其速度、精度或灵活性是否符合要求?我们将与您合作,提供满足您具体需求的解决方案。我们是解决方案提供商,降低总拥有成本是我们的专长。

详细了解我们的解决方案。

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裸片粘接——大批量、低成本

我们的ADAT3 XF系列包括市场上最快速且最先进的贴片机和裸片分类器。大部分产品的运行速度高达60,000 uph,这样就可以减少完成任务所需的机器,从而降低运行成本。ADAT3 XF是一个用途最为广泛的解决方案,可根据您对胶条对胶条(胶水/DAF/共晶)、卷对卷(共晶)和倒装芯片应用的需求进行定制。对于RFID嵌体,ADAT3 XF Tagliner采用了成熟的技术,并且能够实现48,000 uph的速度。对于迷你/微型LED显示屏,拼接LED显示屏的精度至关重要,而ADAT3 XF miniLED贴片机能够实现高达70,000 uph的速度。如果您希望提高生产力和质量,并将拥有成本降至最低,同时实现破纪录产量,ADAT3 XF系列是您的不二选择

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适用于分立器件的大批量测试机

我们的Parset系列是高速半导体生产测试机的行业基准,过去30年为分立产品测试设定了行业标准。该系列包含三个型号(µParset、Power µParset和nanoParset),测试时间为市场上最短,且速度高达90,000 uph(针对带有双轨分类机的nanoParset)。这些高速生产测试机不仅具有灵活性和可扩展性,而且还能够与任何分类机和晶圆探测器无缝协同工作。 

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高速自动光学检测

我们的PHIXEL AOI系列能够识别通常只能在成品电气测试期间发现的器件缺陷,有助于显著提高前端和后端半导体生产力。在重要检测点的智能实现是关键。我们提供的高速检测方案包括晶圆视检、贴片和引线键合后视检,中端检测(模塑和电镀后)、编带后视检以及智能卡芯片模塊检测。 这些ITEC解决方案可将深度学习和传统算法整合在机器视觉中,以确保实现超高质量。

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无忧服务

我们的解决方案组合远超设备范畴。我们提供根据您的确切需求定制的无忧服务解决方案,包括全方位服务(一切包办)和员工培训(以便您可以自行维修设备)。