μPARSET

解决冗长测试时间问题

实现较短的测试时间，提高生产力，同时降低总拥有成本。大批量分立测试机构建为模块化参数测试系统，适用于最多12引脚的分立式半导体器件，可实现较高吞吐量。测试机采用灵活的硬件和软件，适合所有晶圆测试、最终测试、验收或质量测试以及器件表征。µPARSET软件可收集有关测量器件的数据，并提供各种见解。它与分类机和探测器无关，可连接至任何探测器或测试机。精度高，因此测试结果偏差小，产品质量高。当占地面积受限时，可连接至最多4个分类机。