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POWER μPARSET分立器件测试机
POWER µPARSET分立器件测试机可测试高达400 V(每个通道30 A)的功率分立器件,且测试时间领先市场上其他产品。这款测试机采用模块化设计,因此在200 A下可以测试高达2 kV的器件。
![](/.imaging/mte/itec/card/dam/itec/images/solutions/test/parset-discrete-tester/Eliminates-Lenghty-test-times.png/jcr:content/Eliminates%20Lenghty%20test%20times%20(1).png)
μPARSET分立器件测试机
µParset分立器件测试机采用通用硬件和软件,适合所有晶圆测试、最终测试、验收或质量测试以及器件表征。
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NANOPARSET分立器件测试机
当与双轨分类机组合使用时,nanoParset分立器件测试机每小时可测试多达90,000件器件,因此是市场上速度最快的产品。它可用作晶圆测试机、PCM(流程控制监控)测试机和最终的后端测试机。最多可将4个测试头组合在一起,用于以最高吞吐量测试24引脚器件。