解决方案

数据驱动型生产测试

我们的Parset系列是分立式半导体器件测试机的行业标准。该系列有3个基本型号,都具有模块化、通用性和可扩展性等特性。每款Parset测试机都可处理具有最多6个或12个引脚的分立器件。所有机器均采用标准分类机接口,并且可与所有分类机和晶圆探测器无缝协同工作。我们的软件可收集有关测量器件的数据,并为优化产品质量、稳定性和良率提供数据支持。 单击下面的产品型号了解更多信息。

POWER μPARSET分立器件测试机

POWER µPARSET分立器件测试机可测试高达400 V(每个通道30 A)的功率分立器件,且测试时间领先市场上其他产品。这款测试机采用模块化设计,因此在200 A下可以测试高达2 kV的器件。

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μPARSET分立器件测试机

µParset分立器件测试机采用通用硬件和软件,适合所有晶圆测试、最终测试、验收或质量测试以及器件表征。

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NANOPARSET分立器件测试机

当与双轨分类机组合使用时,nanoParset分立器件测试机每小时可测试多达90,000件器件,因此是市场上速度最快的产品。它可用作晶圆测试机、PCM(流程控制监控)测试机和最终的后端测试机。最多可将4个测试头组合在一起,用于以最高吞吐量测试24引脚器件。

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