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模拟电源测试基准
解决功率产品的冗长测试时间问题,以提高输出。这款产品是模块化参数测试系统,适用于最多12引脚的功率分立式半导体器件。标准配置为每个通道的最大电源电压和电流分别为400V和30A。模块化架构使其可采用2kV高压单元和200A高电流单元进行扩展。µPARSET软件可收集有关测量器件的数据,并为优化产品质量、稳定性和良率提供数据支持。
目标细分市场
后端最终测试
晶圆测试
高性能
与分类机和探测器无关
1至4个分类机
多站点测试
测试时间短
引脚电子元件(同时测量所有引脚的电压和电流)
最大引脚数:(FT和AT/QT):6引脚或12引脚
高质量诊断和校准
高精度
用户可定义参数
测试头
电流放大器,用于快速泄漏测量
靠近DUT的短引脚和开式引脚
专用测试硬件
嵌入式软件
用户可定义参数
ITEC界面:用户可定义的操作界面
自动多站点扩展
范围确定功能
所有通道的V和I波形及定时
实时诊断
曲线轨迹
可扩展软件
适用于多个测试单元的设备控制
后加工
动态零件平均测试
静态零件平均测试
运动限制
最小邻域误差
可选扩展模块
Qs:反向恢复电荷(30 nC / 300 nC / 3 uC)
栅极电阻和电容(Rg/Cg)扩展
µPHV:高电压测试(2 kV)
µPHC:高电流单元(200 A)
µPDI:数字接口2 x 16通道,全浮式
SECS/GEM接口
每个通道的最大电源和电流
400 V/30 A
小尺寸
600 x 665 x 1235 mm
其他
可扩展测试头,便于添加分类机
最大:12引脚
电压:220-240 VAC +/- 5%,单相
电流:16 A时熔断
频率:50/60 Hz +/- 0.5 Hz
分类机接口:GPIB、TTL、RS232、TCP/IP
符合SEMI标准的可选SECS/GEM接口