nanoParset

解决冗长测试时间和高测试成本问题

先进的模块化参数测试系统，适用于多达6引脚或12引脚的分立式半导体器件。该测试机的测试时间超短，能够使用单个测试分类机实现每小时最多92,000件器件的测试速度，是市场上最快速的测试单元。该测试机可用作为晶圆测试机、PCM测试机和最终的后端测试机。nanoParset的占地面积极小。最多可将4个测试头组合在一起，用于以最高吞吐量测试24引脚封装。快速开尔文检查，无开关继电器，以防止断路。